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1996-04-16 ArtNo.5701
◆＜星＞ＩＣ障害分析センター、ウエハー・ファブ誘致に貢献も
【シンガポール】シンガポール国立大学(NUS)ＩＣ障害分析センター(CICFA)は極微装置の耐用性テストを担当する。
ＣＩＦＣＦＡのチン・ワイキン所長(34)によると、マイクロチップ中に装着されたこの種の装置はますます小さくなるが、常に同じ電圧で作動せねばならず、このため発熱に伴う障害発生の頻度や時期を測定する必要がある。この種のテストは200回以上繰り返され、ペジャーやハンドフォーのメーカーに貴重な情報を提供するだけでなく、ウエハー製造センターを目指すシンガポールの目標実現にも貢献することになる。同センターでは15人のチームが検査業務を手掛けると言う。－－事項参照。(ST:4/15)
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